2012年前后，抗PID證書最為火爆;

　　

　　2014年前后，蝸牛紋證書很是重要;

　　

　　2016年前后，領(lǐng)跑者認(rèn)證最受關(guān)注;

　　

　　2017年中期，BIS認(rèn)證煩人還折騰…

　　

　　當(dāng)時(shí)間進(jìn)入21世紀(jì)10年代末的2019年，是什么認(rèn)證讓你不得不做?

　　

　　它就是PERC組件高溫光熱衰減測(cè)試!

　　

　　就像當(dāng)年的PID、LID一樣，首張LeTID測(cè)試報(bào)告是6月份最火熱的新聞：

　　

　　回顧1：晶澳單晶PERC組件成為首款通過TÜV南德LeTID測(cè)試方案

　　

　　6月5日，第三方檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)TUV南德意志集團(tuán)(以下簡(jiǎn)稱“TÜV南德”)于第十三屆國際太陽能光伏與智慧能源(上海)展覽會(huì)暨論壇(SNEC)上宣布，晶澳太陽能有限公司(以下簡(jiǎn)稱“晶澳”)單晶PERC組件在經(jīng)過兩輪LeTID 總計(jì)324小時(shí)的循環(huán)序列測(cè)試后，衰減值符合低于1%的標(biāo)準(zhǔn)，成為首家順利通過TÜV南德LeTID測(cè)試評(píng)估方案的光伏組件企業(yè)。

　　

　　回顧2：通威P型硅疊瓦雙面雙玻獲TÜV北德LeTID測(cè)試證書

　　

　　6月4日，第十三屆國際太陽能光伏與智慧能源(上海)展覽會(huì)暨論壇(SNEC)上，TÜV北德展臺(tái)舉行了隆重的發(fā)布儀式，通威太陽能研發(fā)的疊瓦雙面雙玻組件獲得由TÜV北德集團(tuán)簽發(fā)的全球首張P型硅疊瓦雙面雙玻認(rèn)證證書，同時(shí)，還獲得LeTID測(cè)試證書。

　　

　　回顧3：6月4日，上海SNEC展會(huì)期間，隆基、天合、協(xié)鑫、正泰、晶科等五家光伏行業(yè)頂級(jí)組件制造商成為全球首批獲得基于TÜV萊茵內(nèi)標(biāo) 2 PfG 2689/04.19的 LeTID測(cè)試證書的企業(yè)。

　　

　　其實(shí)，在六月SNEC之前，已經(jīng)有企業(yè)開始尋求權(quán)威第三方機(jī)構(gòu)開展LeTID測(cè)試。

　　

　　回顧4：2019年1月29日，晶科能源宣布其委托中國科學(xué)院太陽能光伏發(fā)電系統(tǒng)和風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)質(zhì)量檢測(cè)中心，對(duì)公司產(chǎn)線上隨機(jī)抽取的P型PERC單晶和N型單晶產(chǎn)品進(jìn)行LeTID(Light elevated Temperature Induced Degradation)測(cè)試，兩款產(chǎn)品在測(cè)試中均表現(xiàn)亮眼，展示出晶科產(chǎn)品不俗的抗LeTID性能。

　　

　　本次電池LeTID測(cè)試參考了即將發(fā)布的IEC 63202-1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中的方法，該標(biāo)準(zhǔn)由IEC/TC82的電池工作組召集人晶科能源副總裁金浩博士主編。

　　

　　回顧5：018年12月消息，韓華新能源近日確認(rèn)在由Fraunhofer中心針對(duì)太陽能晶硅電池(以下簡(jiǎn)稱CSP)所進(jìn)行的光照和高溫誘導(dǎo)衰減(LeTID)測(cè)試中，其領(lǐng)先的太陽能電池組件系列展示出卓越的性能。

　　

　　經(jīng)德國Fraunhofer CSP測(cè)試，發(fā)現(xiàn)在高達(dá)75°C的高溫測(cè)試條件下，韓華新能源的組件功率損失可忽略不計(jì)。韓華新能源的半切電池單晶組件Q.PEAK DUO和高效多晶Q.PLUS組件在所測(cè)試的九款組件(包括七款單晶硅和兩款多晶硅組件)中，相較其他各種領(lǐng)先的太陽能品牌企業(yè)所生產(chǎn)的組件，展現(xiàn)出市場(chǎng)領(lǐng)先的抗LeTID性能。最終測(cè)試包括兩組批次共計(jì)18款組件。

　　

　　關(guān)于LeTID測(cè)試，不知不怪，不繼續(xù)往下閱讀，那才怪!

　　

　　第三方測(cè)試，不是認(rèn)證，只是報(bào)告!

　　

　　TÜV三大機(jī)構(gòu)，集中在SNEC期間發(fā)布首張LeTID測(cè)試證書的信息，可見LeTID測(cè)試作為一項(xiàng)新技術(shù)的重要性。細(xì)心的你或許發(fā)現(xiàn)，這三家機(jī)構(gòu)發(fā)布的都是測(cè)試證書，并不是我們常說的第三方認(rèn)證證書，這是什么原因?

　　

　　很簡(jiǎn)單，就像當(dāng)初的南德率先推出抗PID測(cè)試一樣，行業(yè)尚未有一個(gè)統(tǒng)一的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和判定方法。

　　

　　各個(gè)機(jī)構(gòu)目前依據(jù)的都是各自的內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)(或測(cè)試規(guī)范)，在此標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布前，國際上正式的LeTID測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)尚為空白。PI-Berlin在對(duì)于這項(xiàng)測(cè)試的研究較多，目前通行的該實(shí)驗(yàn)室測(cè)試條件是按照第二版IEC 61215-2：組件LETID檢測(cè)草案(根據(jù)MQT 23.1)的要求，將樣品暴露在75°C的環(huán)境箱暗室中，在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下施加最大功率點(diǎn)的正向電流。重復(fù)測(cè)試162小時(shí)，直至穩(wěn)定。如果功率降低小于額定功率的1%，則認(rèn)為組件穩(wěn)定。

　　

　　由于IEC 61215-2仍是草案，對(duì)于一些測(cè)試條件，各參與機(jī)構(gòu)仍有爭(zhēng)議，因此實(shí)際測(cè)試過程中，各測(cè)試機(jī)構(gòu)與組件廠商對(duì)于LeTID的測(cè)試參數(shù)與條件也存在較大差異，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果難以相互比對(duì);此外，現(xiàn)有LeTID測(cè)試中的多次出箱功率測(cè)試不僅增加測(cè)試成本與時(shí)間，也會(huì)影響LeTID自身的衰減過程，使廠商對(duì)于該項(xiàng)測(cè)試結(jié)果評(píng)估產(chǎn)生偏差。

　　

　　因此，和抗PID測(cè)試一樣，在統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)出臺(tái)之前，無論是中科院太陽能光伏檢測(cè)中心、Fraunhofer這些第三方實(shí)驗(yàn)室，還是TÜV南德、北德、萊茵這些第三方認(rèn)證機(jī)構(gòu)，都不能頒發(fā)第三方認(rèn)證證書，只能出具第三方測(cè)試報(bào)告。

　　

　　為何LeTID如此受人關(guān)注?不知不怪，不繼續(xù)往下閱讀，那才怪!

　　

　　前兩天，光伏測(cè)試網(wǎng)發(fā)布了關(guān)于PERC光衰，這個(gè)說法還算中肯?詳細(xì)講述了較早開始研究LeTID的德國PI-BERLIN實(shí)驗(yàn)室對(duì)于PERC光熱衰減的一些看法。LeTID現(xiàn)象不是近年才發(fā)現(xiàn)，而是近一兩年來當(dāng)高效單晶PERC變成一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品開始火熱，讓LeTID備受關(guān)注。

　　

　　2019年1月初，阿特斯集團(tuán)公司發(fā)布新聞宣布，公司已經(jīng)成功向全球市場(chǎng)累計(jì)交付2.6吉瓦阿特斯抗LeTID高效PERC組件。

　　

　　LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation)，業(yè)界稱為“光照和高溫誘導(dǎo)衰減”，或者叫“光熱衰減”。名稱有些拗口，但是值得大家花些時(shí)間去了解它，因?yàn)樗鼤?huì)極大地影響你的太陽能組件和電站發(fā)電性能。

　　

　　晶科能源副總裁金浩博士評(píng)論道：“組件端的LeTID主要是由電池片衰減引起的，電池效率衰減實(shí)際包含了電池片LID和LeTID兩部分。

　　

　　隆基發(fā)布的“LeTID解決方案” 稱：LeTID現(xiàn)象具有普遍性。其普遍性體現(xiàn)在不同的硅材料和電池結(jié)構(gòu)都有可能發(fā)生LeTID，對(duì)于產(chǎn)品的影響程度不盡相同，這又突出了LeTID的復(fù)雜性。

　　

　　H.a.l.m公司Klaus Ramspeck的研究表明：用單晶或多晶硅制作的電池，在20小時(shí)測(cè)試后，單晶PERC電池衰減最大，達(dá)到3%，主要由于BO-LID引起，其次是多晶PERC，準(zhǔn)單晶PERC和單多晶常規(guī)BSF電池。在300小時(shí)測(cè)試后，多晶PERC光衰大于5%，多晶BSF約3%，鑄造單晶約2%，最終單晶PERC衰減在1.5%左右，單晶BSF在1%以下。因?yàn)閱尉б駼O-LID硼氧復(fù)合體損失的效率在75℃以上會(huì)緩慢再生，效率逐漸恢復(fù)。

　　

　　光伏行業(yè)對(duì)LID(Light Induced Degradation)，也就是“光致衰減”現(xiàn)象已經(jīng)很了解。通常情況下，只要光伏組件暴露在陽光下就會(huì)發(fā)生LID(光致衰減)，在短時(shí)間(幾天或幾周)內(nèi)就能達(dá)到飽和的衰減。行業(yè)對(duì)于LID(光致衰減)的研究也已經(jīng)非常充分，產(chǎn)生機(jī)制也獲得一致認(rèn)可，主要是硅材料內(nèi)的硼氧缺陷。

　　

　　然而LeTID衰減機(jī)制不同，它通常發(fā)生在光照和高溫(> 50°C)兩個(gè)條件同時(shí)滿足的情況下，并且LeTID對(duì)于PERC組件的發(fā)電量影響很大。PERC組件在實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試條件和電站實(shí)際工作環(huán)境中都存在LeTID(光熱衰減)現(xiàn)象。在組件工作溫度超過50°C時(shí)，不論是單晶還是多晶PERC組件都會(huì)發(fā)生LeTID(光熱衰減)，衰減率最高可達(dá)10%。

　　

　　根據(jù)PI-BERLIN的研究分析，在德國戶外氣候環(huán)境下，LeTID通常需要10年會(huì)顯著發(fā)生;在塞浦路斯戶外氣候條件下，通常需要4年會(huì)顯著發(fā)生。

　　

　　對(duì)于一個(gè)資本運(yùn)營的電站來說，四年正是成本即將完成回收，運(yùn)營穩(wěn)定，等待更大產(chǎn)出或是待價(jià)而沽的轉(zhuǎn)讓時(shí)機(jī)，這時(shí)候如果突然發(fā)生大面積的LeTID，對(duì)投資者無疑是晴天霹靂!

　　

　　對(duì)于一個(gè)資產(chǎn)回報(bào)的電站來說，十年正是回收完成本，坐享其成的時(shí)候，等待著新的現(xiàn)金流以進(jìn)行新的投資，這時(shí)候如果突然發(fā)生大面積的LeTID，或許連供應(yīng)商都無法找到，更不用說施工方、運(yùn)維方，沒有任何人會(huì)對(duì)這個(gè)問題負(fù)責(zé)!

　　

　　你是否已經(jīng)汗毛林立，頭皮發(fā)麻?

　　

　　你是否感覺到有必要從本文之初再重頭細(xì)讀一遍?

　　

　　好在，各國的研究機(jī)構(gòu)已經(jīng)開始重視這一問題，無論是中科院的光伏實(shí)驗(yàn)室，還是Fraunhofer，PI-Berlin，TÜV各機(jī)構(gòu)。接下來這兩年的第三方認(rèn)證，必然是LeTID的天下。

　　

　　根據(jù)之前的領(lǐng)跑者認(rèn)證消息，中科院太陽能光伏發(fā)電系統(tǒng)和風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)質(zhì)量檢測(cè)中心是中國質(zhì)量認(rèn)證中心的領(lǐng)跑者認(rèn)證簽約實(shí)驗(yàn)室，相信，不久的將來，LeTID做得好，才是真正的行業(yè)領(lǐng)跑者。